表面や薄膜のナノスケールの化学分析は、現代の研究開発において重要な役割を果たしており、赤外(IR)分光法の化学的特異性と原子間力顕微鏡(AFM)のナノスケールの空間分解能を提供するツールに対して高い需要があります。

これには以下2つのクラスがあり、一般にナノスケールIRまたは単に”nano-IR”として知られています。

　1.  s-SNOM: scattering-type scanning near-field optical microscopy (散乱型近接場光学顕微鏡)
　2. AFM-IR: atomic force infrared microscopy (PTE, PTIR, PiFM & PiF-IR等とも呼ばれる)

どちらのアプローチもAFMとIR照明を組み合わせたSPM技術ですが、s-SNOMはAFM探針によって散乱されたIR光を検出し、AFM-IRはAFM検出器を使用して光に対するサンプルの機械的応答を測定します。

どちらもナノスケールのIRイメージングと分光測定が可能ですが、独自の利点があります。 以下では、同等の分解能をもち、AFMのタッピングモードで動作するタッピングAFM-IRとPseudo heterodyne(PsHet)s-SNOMに特に焦点を当てて、それぞれの利点について説明します。主に中赤外、室温での材料科学アプリケーションについて比較します。

「AFM-IR vs. s-SNOM アプリケーション比較」資料

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