電気AFMモードを解き明かす
Nanosurf AFMは、導電性AFM（c-AFM）、ケルビンプローブ力顕微鏡（KPFM）、圧電応答力顕微鏡（PFM）、走査型マイクロ波顕微鏡（SMM）などの電気特性測定を行うことが可能です。
原子間力顕微鏡(AFM)を用いたサンプル導電性の測定結果です。
サンプル表面の導電性マッピングのほか、IVカーブの取得も可能です。
この他、多くの測定事例がございます。
詳細は下記アプリケーションノートをご参照ください。
Nanosurf社製 原子間力顕微鏡 AFM
このアプリケーションの詳細情報をご覧になりたい方は、以下のリンクよりアプリケーションノートをダウンロードください。
Nanosurf C-AFM アプリケーションノート（英文）
Nanosurf AFMは、導電性AFM（c-AFM）、ケルビンプローブ力顕微鏡（KPFM）、圧電応答力顕微鏡（PFM）、走査型マイクロ波顕微鏡（SMM）などの電気特性測定を行うことが可能です。
neaSCOPEは、「FT-IR」と「原子間力顕微鏡（AFM）」を融合した装置です。
neaSCOPEは、「FT-IR」と「原子間力顕微鏡（AFM）」を融合した装置です。
neaSCOPEは、「FT-IR」と「原子間力顕微鏡（AFM）」を融合した装置です。
原子間力顕微鏡(AFM)を用いた磁気力(MFM)の測定結果です。
原子間力顕微鏡(AFM)を用いたMoS2(二硫化モリブデン)の表面電位差の測定結果です。
原子間力顕微鏡(AFM)を用いた半導体表面の測定結果です。
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