電気AFMモードを解き明かす
Nanosurf AFMは、導電性AFM(c-AFM)、ケルビンプローブ力顕微鏡(KPFM)、圧電応答力顕微鏡(PFM)、走査型マイクロ波顕微鏡(SMM)などの電気特性測定を行うことが可能です。
neaSCOPEは、「FT-IR」と「原子間力顕微鏡(AFM)」を融合した装置です。
FT-IRは分子振動に対して高い感度を持つため実用的に様々な化学物質の同定が可能である一方で、測定の際に大量のサンプル量が必要であったり、スキャンエリアが大きく、微小領域の測定が難しいという特徴があります。
原子間力顕微鏡(AFM)は数nmスケールの非常に高い空間分解能でイメージングできます。また、表面形状や弾性率、フォースカーブ、表面電位といった機械的な物性情報を得ることも可能ですが、化学的な情報を得ることができません。
neaSCOPEでは、FT-IRとAFMの技術を組み合わせることで空間分解能10nmのスケールで、化学的・形態的構造解析を実現しました。
こちらの事例は赤外光の反射吸収像と、SEM画像の比較を実施しました。
SEMでは検出できない局所的なドーピングを赤外吸収イメージングにて可視化を実現しました。
散乱型近接場顕微鏡(Nano-FTIR)neaSCOPE
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neaSCOPE 半導体 アプリケーションノート
Nanosurf AFMは、導電性AFM(c-AFM)、ケルビンプローブ力顕微鏡(KPFM)、圧電応答力顕微鏡(PFM)、走査型マイクロ波顕微鏡(SMM)などの電気特性測定を行うことが可能です。
neaSCOPEは、「FT-IR」と「原子間力顕微鏡(AFM)」を融合した装置です。
neaSCOPEは、「FT-IR」と「原子間力顕微鏡(AFM)」を融合した装置です。
原子間力顕微鏡(AFM)を用いた磁気力(MFM)の測定結果です。
原子間力顕微鏡(AFM)を用いたMoS2(二硫化モリブデン)の表面電位差の測定結果です。
原子間力顕微鏡(AFM)を用いたサンプル導電性の測定結果です。
原子間力顕微鏡(AFM)を用いた半導体表面の測定結果です。
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