Quantum Design Microscopy社製 ピエゾ抵抗自己検知型カンチレバー
カンチレバーの反りを電気的に直接測定することができるマイクロカンチレバーです。
物性測定
表面解析
バイオ＆ライフサイエンス
光学クライオスタット/低温物性
リソグラフィー/単結晶製造
ヘリウムリカバリー
産業分野
SEMとSPM（AFM,C-AFM,MFM等）をin-situで測定でき、試料を取り出すことなく、同一環境下の中での測定が可能となります。お手持ちのSEMやFIBに取付けての使用が可能です。
1. SEMとAFMのin-situ測定が可能
試料の装置間の移動が不要のため、同一環境下での測定が可能です。
2. 多様な測定モード
AFM、C-AFM、MFMなどに対応しております。
3. セルフセンシング・カンチレバー
ピエゾ素子を内蔵したカンチレバーを使用しております。
カンチレバーの交換後の調整は不要です。
4. お手持ちのSEM / FIBに取り付け可能です。
※卓上型SEMなど、一部の機種には、取付できない場合がございます。対応機種については、お問い合わせください。
| 測定モード | AFM（コンタクトモード、ノンコンタクトモード）、C-AFM、MFM など |
| スキャナー | 寸法 ：53mm (L) × 51mm (W) × 23mm (H) 走査範囲：x,y:25μm × 25μm、z:15µm |
| 重量 | 70 g |
| 対応真空度 | 10-7 mbar |
| ポジショニングステージ | 可動範囲：x=12mm、y=12mm、z=12mm 粗分解能：x,y,z:100nm（ステップサイズ） |
AFSEM nano
AFSEM 製品紹介
AFSEM 使用方法
AFSEM カンチレバー交換方法
20181105 GETec AFSEM Cayenne Product Video withMusic
カンチレバーの反りを電気的に直接測定することができるマイクロカンチレバーです。
Nanosurf社は1997年にスイスのバーゼル大学から設立された世界で唯一のAFM専門メーカーです。 AFMのみを製造販売しており、ユーザー様のあらゆるニーズに柔軟にご対応いたします。
AFMによる高分解能の構造・機械物性情報と同時に、10nmに迫る高空間分解能で有機分子の光の反射/吸収マッピング/スペクトル測定が可能です。
業界標準のMountains®技術のインタラクティブ性をそのままに、SPIP™（Image Metrology）が誇るすべての分析ツールを引き継いでいます。
ナノレベルのダイナミクスの高速3Dイメージング測定を実現し、新しい表面分析のアプリケーションとソリューションを提供します。
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