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Nanosurf社製 原子間力顕微鏡AFM
Nanosurf社は1997年にスイスのバーゼル大学から設立された世界で唯一のAFM専門メーカーです。 AFMのみを製造販売しており、ユーザー様のあらゆるニーズに柔軟にご対応いたします。
物性測定
表面解析
バイオ&ライフサイエンス
光学クライオスタット/低温物性
リソグラフィー/単結晶製造
ヘリウムリカバリー
産業分野
よりよい研究成果のためには、目的に応じてどのような測定系であっても、すぐに必要な情報を提供する測定装置が求められます。Nanosurf独自の設計と技術力が生み出したFlexAFMは、これまでのAFMの中でも最も多機能で柔軟なシステムで、用意にさまざまなアプリケーションを可能にします。C3000コントローラの柔軟な拡張性によりあらゆるアプリケーションが可能となります。
for Material Science
for Life Science
主な特長と利点
・フレクシャーベースのスキャナ技術によるフラットでリニアなスキャニング
・FlexAFMの液中測定も含む多様な測定モードが利用可能
・柔軟で拡張性の高い試料ステージのデザインコンセプトにより、様々な測定系が構築可能。
・Zeiss/NIKON/Olympus/Leicaの倒立顕微鏡にも対応可
・カンチレバーホルダーは完全に取外し可能。ホルダーのカスタマイズにより原理的に異なる測定系も構築可能
特定の実験系に合わせて設計された様々なステージを利用可能です。すべてのスタンドアローン型ステージは、アクティブ防振テーブルに安定に固定することができます。ステージとしては、簡易ステージから始まり、オプションでXYマイクロメーターステージ、厚めのサンプルを可能にするための延長オプションなどを取り揃えています。
試料をX、Y、Z方向にモーターで移動させるために、ATS 204をご用意しています。 これは、ステージ制御ユニットおよび付属のソフトウェアを介して、移動を制御や自動化を実現できます。さらに、ステージ上に接着力測定などに最適なオプションとして、高分解能100µm Z ピエゾステージ(センサー内蔵)を搭載することができます。
高さを可変にすることで、厚い試料を測定したい場合には、試料とスキャンヘッド間の距離を簡単に延長することができます。この延長オプションは上記各ステージに対応しています。また、倒立顕微鏡オプションは、多くの種類の倒立顕微鏡とシームレスに統合することができ、AFMと光学データ(蛍光/位相差/明視野)の組み合わせを可能にします。
AFMの検出系の中心パーツはカンチレバーホルダーです。Nanosurfは、既存のAFM操作の弱点であった使いにくさを、そのデザインによって解決してきました。ホルダーにはカンチレバーをμmオーダーで精確に固定できるアライメント溝があり、Nanosurfのトップビュー/サイドビュー技術による光学観察系が含まれています。ホルダーはAFMヘッドユニットに磁力で固定されるため、着脱は容易で、カンチレバーの交換を手早くでき清掃や洗浄が可能です。カンチレバーホルダーには、プローブと導電性であるもの、FluidFMに対応するもの、剛性の高い固定方法のものが用意されています。
Gwyddionは、SPM解析に用いられるポピュラーなツールです。使い方は、以下の資料をご覧ください。
本ページの「カタログダウンロード」から詳細な仕様を掲載したカタログをご覧いただけます。
大規模サンプルや複数サンプルの複雑な自動測定には、ANAアドオンをご用意しています。これは、追加のトップビューカメラと専用のソフトウェアパッケージで構成されています。カメラを使って、画面上で測定ポイントを選択し、システムが自動で測定を行います。
例は、Flex-ANAを使用して、3つの異なる医療用チューブの機械的特性を連続して自動測定したものです。
左のサンプルの概要画像は、システムがナノメカニクス測定を自動的に実行する位置(番号1~12)と3つのチューブを重ね合わせたものです。
右のグラフは種々の医療用チューブの弾性率を表しています。ポリマーコーティングは、コーティングされていないチューブよりも数桁低い弾性率をチューブ表面に付与します。この柔らかさは、軟らかい生体組織に見られる柔らかさに匹敵します。 ヒストグラムは、各チューブでプローブした少なくとも3つの異なる領域の結果をプールしたものです。
■左図
Topography of single pyrene nanosheet (adapted with permission from Chem. Mater. 27, 1426–31. Copyright 2015 American Chemical Society)
■中央
Topography of SrTiO3 in dynamic mode. Scan size: 1 µm
■右図
Atomic grid on mica measured with lateral force microscopy
■左図
Quality control of CVD-grown graphene flakes on post-oxidized copper measured by friction (data courtesy: Newtec engineering A/S)
■中央
MFM and topography on artificial spin ice (data courtesy: Prof. S. Ferreira)
■右図
KPFM and topography recorded in a single run
■左図
バクテリオロドプシン2次元結晶の液中イメージング。スキャンサイズ 140nm、背景の減算のみ行った生データ。(Inset) 平均化像内の3つの3量体を白線で示した。
■中央
結晶格子パワースペクトルから、水平方向の分解能が点線で示した1nmを超えていることが分かる。
■右図
単一分子のフォースカーブ測定。制御されたプローブの引き上げによって、膜タンパク質であるバクテリオロドプシン(BR)のC末端からアンフォールドした際の力学応答を水溶液中で測定できた。WLCカーブがBRのアンフォールディングに見られる2種類の力学応答に対応している。
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Nanosurf社は1997年にスイスのバーゼル大学から設立された世界で唯一のAFM専門メーカーです。 AFMのみを製造販売しており、ユーザー様のあらゆるニーズに柔軟にご対応いたします。
AFMとSEMの相関解析を行うことができる新しいプラットホームです。幅広いAFMの測定技術にSEMの利点を加えることで新たな研究領域を創造します。
AFMとSEMの相関解析を行うことができる新しいプラットホームです。幅広いAFMの測定技術にSEMの利点を加えることで新たな研究領域を創造します。
業界標準のMountains®技術のインタラクティブ性をそのままに、SPIP™(Image Metrology)が誇るすべての分析ツールを引き継いでいます。
SEMとSPM(AFM,C-AFM,MFM等)をin-situで測定でき、試料を取り出すことなく、同一環境下の中での測定が可能となります。
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