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Nanosurf社製 原子間力顕微鏡AFM
Nanosurf社は1997年にスイスのバーゼル大学から設立された世界で唯一のAFM専門メーカーです。 AFMのみを製造販売しており、ユーザー様のあらゆるニーズに柔軟にご対応いたします。
物性測定
表面解析
バイオ&ライフサイエンス
光学クライオスタット/低温物性
リソグラフィー/単結晶製造
ヘリウムリカバリー
産業分野
Nanosurf社製 NaioAFMは、大学や専門学校におけるナノテクノロジー教育や、研究開発または品質管理の現場で、表面形状を短時間に簡潔に測定したいユーザーに最適な装置です。機能性と操作性を両立し、どなたでも、どこでも使える”All-in-one”AFM 装置として、世界中で広くご利用いただいております。
NaioAFMを使うには、電源やUSBコネクタを接続し、ソフトウェアを立ち上げるだけです。どこでもすぐに測定を始められます。カンチレバーの交換は非常に簡単です。その後のレーザーアラインメントも必要ありません。Dynamicモード(ACモード)のチューニングもソフトウェアが自動的に行います。
サンプルにカンチレバーを近づければ、スキャン開始です。スキャン前に必要なこと(再チューニング、サンプルへのアプローチ、サンプル平面の傾斜補正)はソフトウェアが自動的に終わらせてくれます。
NaioAFM 特有の"Flip-over"スキャンヘッドと専用交換ツールをお使い頂ければ、どなたでも短時間に簡単にカンチレバーの交換ができます。
AFM初心者の悩みの種であったカンチレバー交換の煩わしさから解放されました。
サンプルの真上からカンチレバーとサンプルを眺めながら、付属のXYポジッショナーで直観的に位置決めすることができます。また不慣れな初心者の方が懸念される、カンチレバーとサンプルの不意な衝突も、サイドビューカメラによって横から観察し距離感をつかむことができ、安心してカンチレバーをサンプルにアプローチすることができます。
通常、装置上部のレンズを直接覗き込むことで観察いただけますが、こちらのオプションをご使用頂くと、PC上でカメラの設定や調光して撮影・録画できるようになります。
(PC側にもう一つUSBポートの空きが必要です)
種々の測定モードオプションをご用意しています。目的にあわせていつでもソフトウェアに追加することができます。
■ Dynamicモードオプション
幅広いサンプルに対応できるダイナミックモード(ACモード)オプションです。
位相イメージングも可能になります。
※共振周波数範囲:15-500 kHz、0.1Hzステップ
※位相コントラスト:±90°、0.05°ステップ
※位相参照範囲:0-360°
■ アドバンストイメージングオプション
拡がり抵抗やフォースモジュレーション測定が可能になります。
■ アドバンストスペクトロスコピーオプション
電流-電圧カーブ測定が可能になります。しきい値設定、電圧の昇降・保持設定ができます。
※プローブ電流測定:±100 μA、3 nAステップ
Gwyddionは、SPM解析に用いられるポピュラーなツールです。使い方は、以下の資料をご覧ください。
スキャン範囲 XY/Z(分解能)※1 | 70 μm (1.0 nm) / 14 μm (0.2 nm) |
Static/Dynamic RMS Zノイズ | 代表値 0.4 nm (最大 0.8 nm) / 代表値 0.3 nm (最大 0.8 nm) |
最大サンプルサイズ 幅/高さ | 12 mm × 12 mm / 3.5 mm |
最大サンプルステージ可動域 | XY方向に 12 mm |
トップビューカメラ | 視野 2×5 mm、分解能 2um、5.0 MピクセルカラーCMOS 4×デジタルズーム、落射LED照明内蔵 |
サイドビュー | 視野 5×5 mm、調光LED照明内蔵 カメラ(視野2×2 mm、1.3MピクセルモノクロCMOS)※2 |
アプローチ | 4 mmリニアモーター、2モード(モーター連続近接/モーター・ピエゾ連携近接) |
プローブ先端電圧印加 | ±10V、5mVステップ |
イメージングモード | Static Force, Dynamic Force(AC-mode)※2、Phase Imaging ※2 |
アドバンスイメージングモード※2 | 拡がり抵抗解析モード(SRA)、フォースモジュレーション |
スペクトロスコピーモード | カ-距離カーブ測定、振幅-距離カーブ測定、電圧-距離カーブ測定 |
アドバンススペクトロスコピー | I-Vカーブ測定、しきい値指定、Z挙動指定 |
リソグラフィーモード |
CADベクターグラフィック, Bitmapイメージ読み込み |
リモート制御/add-ons ※2 |
Windowsスクリプトインターフェイス: LabView, C#, Visual Basic, MatLab, 他ソフトウエアに対応 |
対応OSバージョン・PC仕様 |
Windows 7 またはそれ以降(32/64-bit), 1280×1024ピクセル以上、 Core 2 CPU, 4 GB RAM, USB 2.0 port 1つ以上 |
寸法/重量/電源 |
204x204x160 mm / 6.5 kg / 100-240 VAC (30W) |
※1 出荷時許容範囲±10%
※2 オプションの追加が必要です。
システム紹介動画
Nanosurf社は1997年にスイスのバーゼル大学から設立された世界で唯一のAFM専門メーカーです。 AFMのみを製造販売しており、ユーザー様のあらゆるニーズに柔軟にご対応いたします。
AFMとSEMの相関解析を行うことができる新しいプラットホームです。幅広いAFMの測定技術にSEMの利点を加えることで新たな研究領域を創造します。
AFMによる高分解能の構造・機械物性情報と同時に、10nmに迫る高空間分解能で有機分子の光の反射/吸収マッピング/スペクトル測定が可能です。
業界標準のMountains®技術のインタラクティブ性をそのままに、SPIP™(Image Metrology)が誇るすべての分析ツールを引き継いでいます。
SEMとSPM(AFM,C-AFM,MFM等)をin-situで測定でき、試料を取り出すことなく、同一環境下の中での測定が可能となります。
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