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Nanosurf社製 原子間力顕微鏡AFM
Nanosurf社は1997年にスイスのバーゼル大学から設立された世界で唯一のAFM専門メーカーです。 AFMのみを製造販売しており、ユーザー様のあらゆるニーズに柔軟にご対応いたします。
物性測定
表面解析
バイオ&ライフサイエンス
光学クライオスタット/低温物性
リソグラフィー/単結晶製造
ヘリウムリカバリー
産業分野
一般的なSPM装置には、サンプルの大きさやサンプルステージの可動域に制限があります。大きなサンプルを破壊せずにそのまま測定したり、傾きのあるサンプルに合わせて測定したい場合には、カスタムAFMによるソリューションをご提案します。
必要とされるスキャン範囲や分解能、目的に合わせてヘッドユニットを選択できます。一般的なソリューションでは、カメラを内蔵した汎用NaniteAFMヘッドユニットが適しています。より高い分解能や液中測定が必要な場合にはFlexAFMヘッドユニットを選択できます。
AFM head | XY範囲 | Z範囲 | Zノイズ (static) | Zノイズ (dynamic) | 内蔵カメラ |
Nanite 110 | 110 μm | 22 μm | 350 pm | 90 pm | top +side |
Nanite 70 | 70 μm | 14 μm | 350 pm | 90 pm | top + side |
Nanite 25 | 25 μm | 5 μm | 80 pm | 30 pm | top + side |
Flex 100 | 100 μm | 10 μm | 100 pm | 35 pm | – |
Flex 10 | 10 μm | 3 μm | 100 pm | 35 pm | – |
Gwyddionは、SPM解析に用いられるポピュラーなツールです。使い方は、以下の資料をご覧ください。
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Nanosurf社は1997年にスイスのバーゼル大学から設立された世界で唯一のAFM専門メーカーです。 AFMのみを製造販売しており、ユーザー様のあらゆるニーズに柔軟にご対応いたします。
AFMとSEMの相関解析を行うことができる新しいプラットホームです。幅広いAFMの測定技術にSEMの利点を加えることで新たな研究領域を創造します。
AFMとSEMの相関解析を行うことができる新しいプラットホームです。幅広いAFMの測定技術にSEMの利点を加えることで新たな研究領域を創造します。
業界標準のMountains®技術のインタラクティブ性をそのままに、SPIP™(Image Metrology)が誇るすべての分析ツールを引き継いでいます。
SEMとSPM(AFM,C-AFM,MFM等)をin-situで測定でき、試料を取り出すことなく、同一環境下の中での測定が可能となります。
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