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SEM/AFM相関顕微鏡 FusionScope
AFMとSEMの相関解析を行うことができる新しいプラットホームです。幅広いAFMの測定技術にSEMの利点を加えることで新たな研究領域を創造します。
物性測定
表面解析
バイオ&ライフサイエンス
光学クライオスタット/低温物性
リソグラフィー/単結晶製造
ヘリウムリカバリー
産業分野
Quantum Design Microscopy社製のピエゾ抵抗自己検知型(PRS, Piezo Resistive Self-sensing)カンチレバーは、カンチレバーの反りを電気的に直接測定することができるマイクロカンチレバーです。また、FEBIDによってプローブ先端を修飾した特殊プローブにより、MFMやcAFMといった測定が可能となります。
反りを直接検出できるので、リードアウトの回路は単純化でき、光てこ方式と比べて空間的な制限を受けないという特長があります。そのため、SEMやさまざまな装置との組み合わせが可能です。QD Microscopy AFSEM nanoを使えば、SEM内・真空チャンバー・グローブボックス内ですぐにAFM/SPMイメージングが可能です。
PRSは大気中や液中での測定も可能で、光に敏感なサンプルや、懸濁液中の測定など、光てこが適用できない系にも適用可能です。
PRSカンチレバー先端には先端の曲率半径が15nm以下のプローブが形成されています。カンチレバー先端付近のヒーター部分に励振シグナルを入力することで、カンチレバーの熱励振が可能です。カンチレバーと基板の境界付近にあるのが反りセンサーで、材質はボロンをドープしたSiです。センサーはホイートストンブリッジ回路のR1, R2にあたり、固定抵抗R3,R4はセンサと同材質・同形状で反りの発生しない部分に配置されています。このホイートストンブリッジ回路により、熱ドリフト補償しつつ反りシグナルを高感度に検出できます。
カンチレバー先端にSi製のプローブを有する、AFM用の標準PRSカンチレバーシリーズです。自己検知型のAFMイメージングにご利用いただけます。長さが300μmと115μmのカンチレバー(PRSA)には熱励振用のヒーターが組み込まれています。70μmのPRSの励振には外部の振動子が必要です。
チップはカンチレバー表面の回路と接続されたPCB(6 x 5 mm)基板として提供されます。この基板は専用のソケットに固定できるので、カンチレバーの交換も安全かつ容易に行うことができます。
カンチレバー先端に先鋭化した単結晶ダイアモンド(SCD)プローブを有するSCDカンチレバーシリーズです。プローブの硬度が高く先鋭なまま長期間の使用に耐えられるため、ナノインデンテーション、スクラッチ、高いアスペクト比が必要なサンプルのイメージングに有効です。
また、SCDは表面エネルギーが小さいため、粘着性のサンプルや生体試料などをイメージングする際のコンタミネーションが抑えられます。
ナノスケールの磁区観察や磁性イメージングが可能なMFM用プローブを持つカンチレバーです。FEBIDでプローブの先端に磁性体を持ちつつ、先端の曲率半径は20nm以下なので高分解能の磁性イメージングが可能です。
プローブ先端の導電膜からのシグナルが得られる、導電性プローブカンチレバーです。AFSEM nanoはヘッドユニット内のアンプで電流値を増幅でき、低ノイズ・高感度なcAFMイメージングが可能です。
※SCLスターターキットでは導電性プローブは使用できません。
型番 | カンチレバー | プローブ | |||
共振周波数 kHz | 寸法 LW μm | 先端径 nm | 高さ μm | 材質 | |
標準Siプローブ | |||||
PRSA-L300- 50- STD |
30 – 95 | 300 x 108 | < 20 | 4 – 6 | Si |
PRSA-L115-400-STD | 250-850 | 115 x 54 | < 20 | 4 – 6 | Si |
PRS- L70-F900- STD | 350 – 1200 | 70 x 30 | < 20 | 4 – 7 | Si |
単結晶ダイアモンドプローブ | |||||
SCD-L300-50-STD | 30 – 95 | 300 x 108 | < 20 | 12 – 16 | SCD |
SCD-L115-400-STD | 250 – 750 | 115 x 54 | < 20 | 12 – 16 | SCD |
磁性プローブ (MFM等) | |||||
MAG-L300- 50-STD | 30 – 95 | 300 x 108 | < 20 | 4 – 6 | |
MAG-L115-400-STD | 250 – 800 | 115 x 54 | < 20 | 4 – 6 | |
導電性プローブ (cAFM等) | |||||
CON-L400-30-STD | 15 – 80 | 400 x 150 | < 20 | 4 – 6 | |
CON-L115-50-STD | 250 – 800 | 115 x 54 | < 20 | 4 – 6 |
詳細はお問い合わせください。
PRSカンチレバーチップの取り付け
PRSを用いたグラフェンのAFM+SEM in situ イメージング
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AFMとSEMの相関解析を行うことができる新しいプラットホームです。幅広いAFMの測定技術にSEMの利点を加えることで新たな研究領域を創造します。
SEMとSPM(AFM,C-AFM,MFM等)をin-situで測定でき、試料を取り出すことなく、同一環境下の中での測定が可能となります。
Nanosurf社は1997年にスイスのバーゼル大学から設立された世界で唯一のAFM専門メーカーです。 AFMのみを製造販売しており、ユーザー様のあらゆるニーズに柔軟にご対応いたします。
AFMによる高分解能の構造・機械物性情報と同時に、10nmに迫る高空間分解能で有機分子の光の反射/吸収マッピング/スペクトル測定が可能です。
業界標準のMountains®技術のインタラクティブ性をそのままに、SPIP™(Image Metrology)が誇るすべての分析ツールを引き継いでいます。
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